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芯片MAD吸湿测试|封装吸湿/除湿称重、MSL关联与报告说明

正衡检测可开展芯片 MAD 吸湿测试、封装材料吸湿/除湿称重、湿热吸湿曲线、烘烤除湿曲线和 MSL 风险验证,适用于塑封 IC、BGA、QFN、SiP、MEMS、功率器件、连接器材料和电子封装材料。

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服务内容 service content

正衡检测可开展芯片 MAD 吸湿测试、封装材料吸湿/除湿称重、湿热吸湿曲线、烘烤除湿曲线和 MSL 风险验证,适用于塑封 IC、BGA、QFN、SiP、MEMS、功率器件、连接器材料和电子封装材料。

MAD / Moisture Absorption and Desorption
芯片MAD吸湿测试:封装吸湿/除湿称重、MSL关联与报告说明

芯片和电子封装材料在湿热环境中会吸收水分,后续回流焊、烘烤或高温工作时可能出现爆米花效应、分层、开裂、腐蚀和功能异常。正衡检测可按客户条件开展 MAD(Moisture Absorption and Desorption)吸湿/除湿称重测试,输出质量变化曲线、吸湿速率、除湿效果和 MSL 风险关联说明。

适用:IC / BGA / QFN / SiP / MEMS / 功率器件 条件:30℃/60%RH、60℃/60%RH、85℃/85%RH 称重:微克级质量变化跟踪 关联:J-STD-020 / J-STD-033 / JESD22

芯片吸湿测试为什么重要?

封装材料、塑封料、基板、胶黏剂和界面层都会影响器件吸湿。吸湿量不只是一个质量数据,它和回流焊前烘烤、MSL 等级、仓储暴露时间、分层风险、SAM 检查、截面分析和失效定位都有关。

客户常见需求包括:确认封装材料吸湿能力、对比不同批次或供应商材料、验证烘烤除湿是否充分、解释回流后分层/鼓包原因、为可靠性试验或客户审核提供数据证据。

适用产品与测试对象

半导体封装器件

BGA、QFN、SOP、SiP、MEMS、功率器件、塑封 IC、传感器封装、模块类器件。

封装与电子材料

塑封料、底填胶、灌封胶、环氧树脂、基板、胶膜、载板、连接器和电子绝缘材料。

失效分析关联

回流焊后分层、鼓包、开裂、腐蚀、漏电、绝缘下降、功能异常等吸湿相关问题。

主标准与参考标准链条

标准/方法适用重点在 MAD 页面中的作用
IPC/JEDEC J-STD-020非气密固态表面贴装器件的湿敏等级分类用于理解 MSL 等级、回流敏感性和吸湿预处理背景。
IPC/JEDEC J-STD-033湿敏器件的处理、包装、运输和使用用于解释干燥、烘烤、暴露时间和客户来料管理风险。
JESD22-A113表面贴装器件的预处理/回流前条件用于把吸湿数据与回流前失效风险关联起来。
JESD22-A120无偏高加速温湿度应力相关方法用于湿热应力和封装材料可靠性背景说明。
GB/T 2423.2、GB/T 2423.3高温、恒定湿热环境试验用于环境条件、湿热暴露和国内报告沟通。
客户规范 / 内部方法MAD 具体称重点、条件和判定作为实际项目的主方法来源,确定时间点、样品数量和数据格式。

典型 MAD 吸湿/除湿测试流程

1方案确认确认器件类型、样品数量、温湿度条件、称重点和报告用途。
2初始登记拍照、编号、记录包装状态、批次、尺寸和初始外观。
3干燥基线常用 125℃ 烘烤≥24h,冷却后进行初始质量称量。
4吸湿暴露在 30℃/60%RH、60℃/60%RH 或 85℃/85%RH 等条件下分时称重。
5除湿烘烤转入 125℃ 等条件,跟踪质量下降和干燥恢复情况。
6数据分析输出吸湿曲线、除湿曲线、变化率和失效风险说明。

示意图:MAD 质量变化曲线怎么读?

质量变化 时间 吸湿阶段:质量上升 除湿阶段:质量下降 切换烘烤

实际报告中会以样品编号为单位给出质量-时间表格和曲线。若吸湿后质量快速上升、除湿后不能恢复,或不同批次差异明显,通常需要进一步结合 SAM、截面、回流模拟或电性能检查。

常用条件与称重点

阶段典型条件常见称重点说明
干燥基线125℃,≥24h冷却后初始称量建立干燥质量基线,减少初始含湿差异。
吸湿阶段30℃/60%RH、60℃/60%RH、85℃/85%RH2、4、8、12、24、48、72、96、120、144、168、192h按客户要求选择条件和时间点,观察吸湿速率和平台期。
除湿阶段125℃ 烘烤0、2、4、8、10、12、16、18、24h观察烘烤除湿效率和质量恢复程度。
关联验证回流模拟、SAM、截面、电性能按失效问题选择用于把 MAD 数据和实际失效现象连接起来。

样品与资料要求

样品数量

建议至少提供测试样和备用样;若需多条件、多时间点或失效分析,应增加样品数量。

样品信息

提供器件型号、封装形式、批次、包装状态、是否已开封、是否经过烘烤或回流。

目标用途

说明用于 MSL 评估、材料对比、客户审核、回流失效解释,还是研发选材。

报告通常包含哪些内容?

报告可包含样品信息、测试依据、温湿度条件、烘烤条件、称重设备信息、称重点、质量变化表、吸湿/除湿曲线、样品照片、异常记录和结论。对于失效分析项目,可进一步关联 SAM、截面、显微观察、离子污染、电性能或回流模拟结果。

常见问题

MAD 吸湿测试能直接等同于 MSL 等级吗?

不能简单等同。MAD 反映吸湿/除湿行为,MSL 还涉及封装结构、回流条件、预处理和失效判定。MAD 可以作为 MSL 风险分析和材料对比的重要证据。

为什么要做除湿曲线?

除湿曲线能判断烘烤是否有效,以及材料是否存在不可逆吸湿或残留风险。对回流前烘烤工艺、仓储管理和返修策略很有价值。

只有少量样品能不能测试?

可以先做探索性测试,但如果用于客户判定、批次比较或正式报告,建议增加样品数量并明确统计口径。

站内相关能力

电子元器件失效分析半导体与电子材料可靠性测试GB/T 2423 恒定湿热测试高低温与环境可靠性测试

公开资料参考

本页面结合公开标准目录和行业资料整理,不复制标准原文。可参考 IPC/JEDEC J-STD-020、IPC/JEDEC J-STD-033、JESD22-A113、JESD22-A120 以及 GB/T 2423 系列环境试验方法。

芯片 MAD 吸湿测试咨询

如需确认称重点、样品数量、温湿度条件、烘烤条件、报告周期和报价,请把器件型号、封装形式、样品状态、目标用途和客户要求发给正衡检测,我们会整理成可执行测试方案。

电话 / 微信搜索:15851479684
微信 ID:ZENHGROUP
地址:苏州工业园区方泾路10号B栋116室
服务流程
  • 1.咨询报价
  • 2.接受委托

    确认需求,签订合同,接受委托

  • 3.试验进行

    根据需求进行试验

  • 4.完成委托

    客户确认并验收测试结果

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